Author: Koopmans, Ype
Title: Te Waar Om Mooi Te Zijn: Het kritische realisme van Dix & Co.
Description: Museum Moderne Kunst: Arnhem, 2010. Kunstleer met foto-opdruk, 136 pp., afbeeldingen in kleur. 24x17,5x1,5 cm. Enige aantekeningen in pen. Verder zeer goede staat.

Keywords:


See more books from our catalog: Art