Author: Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel:
Title: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).
Description: Berlin etc.: Springer 1986. VIII, 300 Seiten mit 154 Abb. und 20 Tab.; 25 cm. Hardcover/Pappeinband. Guter Zustand. Bibliotheksexemplar mit Stempeln und Signatur auf Einband. Sonst Seiten sauber. / Good. Ex-library with usual markings. Clean pages. Free shipping within Germany. Shipping costs to EU-countries: 9.50 EUR, to non-EU-countries: 15.00 EUR.

Keywords: Sekundärionen-Massenspektrometrie; Auger-Spektroskopie; Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, Physik, Astronomie, Technische Chemie, Lebensmitteltechnologie, Textiltechnik und andere Technologien ISBN: 9783540150503


See more books from our catalog: Chemie