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Title: Sekundärionenmassenspektrometrie an molekularen Oberflächenstrukturen: Charakterisierung von LB-Schichten, SA-Monolagen und kovalent modifizierten oxidischen Oberflächen. DUV: Naturwissenschaft.
Description: Wiesbaden: Dt. Univ.-Verl. 1994. X, 178 S., zahlr. graph. Darst. Paperback. Guter Zustand. Ehemaliges Bibliotheksexemplar mit entsprechenden Kennzeichnungen. Ansonsten ohne Eintragungen. Einband mit leichten Gebrauchsspuren. Free shipping within Germany. Shipping costs to EU-countries: 9.50 EUR, to non-EU-countries: 15.00 EUR.

Keywords: Monoschicht ; Flugzeitmassenspektrometer ; Sekundärionen-Massenspektrometrie, Physik, Astronomie ISBN: 9783824420520

Price: EUR 19.50 = appr. US$ 21.19 Seller: Antiquariat Thomas Haker
- Book number: 832795

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