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Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel: - Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).

Berlin etc.: Springer 1986. VIII, 300 Seiten mit 154 Abb. und 20 Tab.; 25 cm. Hardcover/Pappeinband. Guter Zustand. Bibliotheksexemplar mit Stempeln und Signatur auf Einband. Sonst Seiten sauber. / Good. Ex-library with usual markings. Clean pages. Free shipping within Germany. Shipping costs to EU-countries: 9.50 EUR, to non-EU-countries: 15.00 EUR.
EUR 32.00 [Appr.: US$ 37.07 | £UK 28 | JP¥ 5487] Book number 841977

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